| タイトル |
Standards: Exposure Limits for Brief High Intensity Pulses of Radiofrequency Energy Between 6 and 300 GHz
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| 日本語タイトル |
規格：6-300 GHzの高周波エネルギーの短時間高強度パルスに対するばく露制限
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| 著者 |
Foster KR, Laakso I, Balzano Q
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| 所属 |
Department of Bioengineering, University of Pennsylvania
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資料区分 |
論文
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| 雑誌名 |
IEEE Access
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文献区分 |
総説
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| 発表年 |
2025
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周波数区分 |
ミリ波(30GHz以上)
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| 巻/ISSN(号):ページ |
Online
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研究区分 |
基準・規制
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| 国 |
USA
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PubMed ID |
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| 論文情報入手日 |
2025-07-16
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DOI |
10.1109/ACCESS.2025.3592532
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| キーワード |
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| 概要 |
このレビュー論文の著者らは、国際非電離放射線委員会 (ICNIRP) と電気電子学会 (IEEE C95.1-2019) による、6分間の平均化時間内に大幅に変動する高周波（RF）エネルギー への「短時間ばく露」に関する制限値を考察している。この状況は、サービスエリアの周囲にビームを掃引するビームフォーミングを備えた MIMO (Multiple Input Multiple Output) アンテナを採用した携帯電話基地局からのばく露と、ピーク電力は高いがデューティサイクルは低いパルスRFへのばく露という二つの重要な状況で発生する。6-300 GHz の短時間ばく露に関するICNIRPとIEEEの制限値では、組織の一次元熱モデルに対する数値解析的解法を用いて評価している。解析は、RFの矩形パルス (つまり、突然印加されたRFに対するステップ応答) と RFエネルギーのインパルスの両方に対して解析を行った。その結果、ICNIRPガイドライン／IEEE規格は皮膚の過度な過渡的加熱に対する保護レベルにばらつきがあり、IEEEの制限値はICNIRPの制限値よりもはるかに保守的であることが示された。熱モデルは、パルスフルエンスの制限値に単純な修正を加えることで、持続時間と周波数の異なるパルスにおける過度の温度上昇に対するより一貫した保護レベルを提供することを示唆している。この規格文書では、組織温度の変化率は高いものの温度上昇は小さい、短時間で非常に高い振幅のRFパルスによって生じる可能性のある非熱的ハザードや熱音響効果は考慮していない。パルスRFのばく露制限値を確立し、精緻化するため、更なる研究開発が必要である、と著者らは結論付けている。
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