| タイトル |
Radio Frequency Electromagnetic Field Exposure Compliance Assessments of Smart Surfaces: Two Approximate Approaches
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| 日本語タイトル |
スマートサーフェイスの高周波電磁界ばく露の適合性評価：二つの近似アプローチ
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| 著者 |
Liu S; Onishi T; Taki M; Watanabe S
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| 所属 |
National Institute of Information and Communications Technology
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資料区分 |
論文
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| 雑誌名 |
IEEE Trans Electromagn Compat
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文献区分 |
原著論文・短報
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| 発表年 |
2022
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周波数区分 |
ミリ波(30GHz以上)
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| 巻/ISSN(号):ページ |
Online
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研究区分 |
ドシメトリ
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| 国 |
Japan
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PubMed ID |
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| 論文情報入手日 |
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DOI |
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| キーワード |
Base stations; compliance assessment; electromagnetic field (EMF) exposure; power density; radio frequency (RF); sixth generation (6G); smart surfaces: terahertz
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| 概要 |
この論文の著者らは、第6世代移動通信（6G）用の有望な技術の一つとされるスマートサーフェイスの高周波（RF）電磁界の適合性評価のための2つのアプローチであるアレイ理論アプローチと等価電流アプローチを調べた。ビーム、大きさ、形状が異なるスマートサーフェイスを設計・評価・分析し、その結果を全波シミュレーションに基づく参照アプローチと比較した。これら二つの近似アプローチでは評価時間が有意に改善され、考えられる多数のビーム状態のばく露シナリオでの適合性評価に極めて有益である一方、評価精度は本質的にシステムの構成に依存することが示された。特に、直径が素子の周期性の21倍に等しい円形のスマートサーフェイスでは、スキャン角度がブロードサイドから遠方にある極端な状況を除いて、アレイ理論アプローチおよび等価電流アプローチについて相対誤差がそれぞれ30%および24%を超えない前方の適合性間隔の過大評価となる、と著者らは報告している。
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