| タイトル |
Nondestructive inspection by usingscattering and spectra in terahertz waves.
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| 日本語タイトル |
テラヘルツ波の散乱およびスペクトルを用いた 非破壊検査技術
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| 著者 |
渋谷孝幸(Shibuya T) ; 山下雅弘(Yamashita M) ; 小川 雄一(Ogawa Y) ; 大谷知行(Otani C) ; 川瀬晃道(Kawase K) ; 井上博之(lnoue H) ; 金森達之(Kanamori T)
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| 所属 |
東京理科大学(Tokyo University of Science)
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資料区分 |
論文
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| 雑誌名 |
電気学会論文誌 C 電子・情報・システム部門誌(IEEJ Transactions on Electronics; Information and System)
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文献区分 |
原著論文・短報
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| 発表年 |
2005
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周波数区分 |
ミリ波(30GHz以上)
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| 巻/ISSN(号):ページ |
125 (4): 545-550
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研究区分 |
工学・物理
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| 国 |
Japan
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PubMed ID |
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| 論文情報入手日 |
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DOI |
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| キーワード |
Terahertz wave ; spectral fingerprint ; scattering ; nondestructive inspection
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| 概要 |
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